位置感測(cè)器

使用準(zhǔn)直性（能量集中性）高的雷射光之反射型、對(duì)照型雷射位移感測(cè)器。追求對(duì)高精度定位或品種辨別等多樣化應(yīng)用之因應(yīng)力與使用便利性。

下載型錄

產(chǎn)品陣容 : 接觸式位置感測(cè)器

GT2 系列 - 高精度接觸式數(shù)位感測(cè)器

GT2系列產(chǎn)品透過接觸式量測(cè)，能以高精度檢測(cè)目標(biāo)物的厚度、寬度、外徑等。並透過光學(xué)刻度系統(tǒng)設(shè)計(jì)改善了傳統(tǒng)感測(cè)方式「誤差」與「無法得知絕對(duì)位置」等等問題。

產(chǎn)品型錄 了解價(jià)格

GT 系列 - 多功能數(shù)位接觸式感測(cè)器

帶有按鈕校正的牢固，堅(jiān)實(shí)的多功能數(shù)位接觸式感測(cè)器。

產(chǎn)品陣容 : 反射式雷射位移感測(cè)器

IL 系列 - CMOS 雷射位移感測(cè)器

IL 系列為反射式雷射位移感測(cè)器，具備高檢出能力與穩(wěn)定性，並兼具成本效益。無需依工件材質(zhì)或表面狀況進(jìn)行調(diào)整，即可穩(wěn)定檢測(cè)，適合導(dǎo)入生產(chǎn)線以簡(jiǎn)化安裝、切換及產(chǎn)品更換流程。系列提供多樣化感測(cè)頭，包括高精度型與長(zhǎng)距離型，具備寬廣動(dòng)態(tài)範(fàn)圍與高環(huán)境耐受性，可應(yīng)用於多種檢測(cè)需求。其 1 μm 重複精度，使其能應(yīng)用於過往感測(cè)器無法穩(wěn)定滿足的高容差檢測(cè)環(huán)境。

產(chǎn)品型錄 了解價(jià)格

IA 系列 - CMOS 類比雷射感測(cè)器

高性價(jià)比、高精度量測(cè)

產(chǎn)品陣容 : 對(duì)照式雷射位移感測(cè)器

IG 系列 - 多功能CCD 雷射測(cè)微計(jì)

IG 系列採(cǎi)用 L-CCD 光電感測(cè)元件，透過檢測(cè)雷射透射邊緣而非光強(qiáng)度，能實(shí)現(xiàn)不受透光率影響的高精度區(qū)分。其重複精度達(dá) 5 μm，線性度為 ±0.1%，可確保穩(wěn)定且高精度的量測(cè)。此系列可應(yīng)用於多種場(chǎng)景，包括透明玻璃邊緣檢測(cè)與定位、工件外徑辨識(shí)、邊緣偵測(cè)下的回饋控制，以及軋輥間隙測(cè)量等。主機(jī)配備的定位顯示器可在開線或產(chǎn)品切換時(shí)輔助光軸校正。

產(chǎn)品型錄 了解價(jià)格

IB 系列 - 光透過型雷射偵測(cè)感測(cè)器

IB系列透過非接觸式量測(cè)，能實(shí)現(xiàn)以低成本高性能檢測(cè)微小物體 、簡(jiǎn)易的尺寸及位置判別。

產(chǎn)品陣容 : 超音波感測(cè)器

UD-300 系列 - 超音波位移感測(cè)器

超音波位移感測(cè)器幾乎可測(cè)量任意目標(biāo)

產(chǎn)品型錄 了解價(jià)格

FW 系列 - 高功率數(shù)位超音波感測(cè)器

耐用的多重反射型感測(cè)器，檢測(cè)不會(huì)受到物體材質(zhì)、顏色或光澤的影響。