微型光譜干涉雷射位移計(jì) SI-F 系列

微型光譜干涉雷射位移計(jì)

  • [超高精度] 解析度：0.25 μm
  • [世界最小] 微型感測(cè)頭尺寸：?2 mm
  • [業(yè)界第一] 量測(cè)原理：光干涉法

SI-F 系列 - 微型光譜干涉雷射位移計(jì)

世界首創(chuàng)微型感測(cè)頭，擁有同類(lèi)產(chǎn)品中最高的量測(cè)精度，並達(dá)到過(guò)去認(rèn)為不可能實(shí)現(xiàn)的性能。

產(chǎn)品特性

感測(cè)頭選擇豐富，擴(kuò)大可對(duì)應(yīng)的量測(cè)應(yīng)用

產(chǎn)品陣容包含超小型、長(zhǎng)距離等支援各種用途的專(zhuān)用感測(cè)頭。

消除發(fā)生測(cè)量錯(cuò)誤的隱患

量測(cè)頭僅由光纖和鏡頭組成，無(wú)電子部件。